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 　　HLY-III回路電阻測(cè)試儀是采用數(shù)字電路技術(shù)和開(kāi)關(guān)電路技術(shù)制作，它是用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻。

　　HLY-III回路電阻測(cè)試儀測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定、適合電力，供電部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)高壓開(kāi)關(guān)維修和高壓開(kāi)關(guān)廠(chǎng)回路電阻測(cè)試的要求。

　　影響回路電阻測(cè)試儀接觸電阻的原因有哪些呢?

　　1.材料性質(zhì)：硬度、化學(xué)性質(zhì)、金屬化合物的機(jī)械強(qiáng)度與電阻率。

　　2.接觸壓力。

　　3.接觸形式：點(diǎn)接觸、線(xiàn)接觸、面接觸。

　　4.接觸面狀況：當(dāng)接觸面形成氧化膜時(shí)(銀例外)，氧化膜比金屬本身的電阻要大得多。

　　5.接觸表面的粗糙度。